个人介绍
集成电路封装与测试导论
提供学校: 西安电子科技大学
院系: 材料科学与工程系
课程编号: MA006009
课程介绍
教学大纲

《集成电路封装与测试导论》教学大纲

课程编号:MA006009

课程名称:集成电路封装与测试导论

英文名称:Introduction to integrated circuit packaging andtesting technology

学分/学时:1/16

课程性质:校通识教育课程

适用专业:电子类、通信类相关专业

建议开设学期:1

先修课程: 无

开课单位:先进材料与纳米科技学院

一、课程的教学目标与任务

通过本课程的学习,使学生在掌握集成电路封装的概念、形式与特点的基础上,初步了解集成电路封装中主要工序的基本工艺原理、操作方法以及参数检测方法,为日后学生在相关专业课程中的深入学习打下基础。

二、课程具体内容及基本要求

(一)集成电路封装概述 ( 2学时)

集成电路及封装的定义、特点及实例介绍。

1.基本要求

1)了解集成电路封装的定义、薄膜混合集成电路的定义、厚膜混合集成电路的定义

2)熟悉混合集成电路封装的特点,掌握设计选用原则

2.重点、难点

重点:集成电路及封装的定义

难点:、三种类型电路的区分与各自的特点

3.作业及课外学习要求:

按要求完成课后作业。

(二)厚膜沉积技术 ( 4学时)

厚膜成膜材料与浆料特性,厚膜成膜方法丝网印刷工艺,厚膜烧结工艺。

1.基本要求

1)了解常用厚膜导体、电阻、介质材料特性,掌握厚膜浆料的特性、组成成分和制备方法。

2)熟悉厚膜丝网印刷工艺流程、工艺特点与影响成膜效果的因素。

3)熟悉厚膜烧结工艺流程。

2.重点、难点

重点:厚膜丝网印刷工艺流程;厚膜烧结工艺流程。

难点:厚膜浆料的组成与各成分的作用;厚膜烧结曲线与烧结过程中的反应,厚膜成膜机制。

3.作业及课外学习要求:

按要求完成课后作业。

(三)薄膜成膜技术 ( 4学时)

薄膜导体、电阻、介质材料的选择与特性;薄膜中的PVD成膜方法真空蒸发与离子溅射;薄膜成膜机制;薄膜图形形成方法加法工艺与减法工艺。

1.基本要求

1)了解薄膜导体材料、电阻材料、介质材料的特性;

2)熟悉薄膜成膜方法:真空蒸发、离子溅射的工艺过程与工艺特点,掌握薄膜膜层的成膜机制;

3)掌握薄膜图形形成方法,重点掌握减法工艺中的光刻工艺的工艺过程与工艺特点。

2.重点、难点

重点:真空蒸发与离子溅射的工艺过程与工艺特点。

难点:多次光刻工艺的工艺流程。

3.作业及课外学习要求:

按要求完成课后作业。

(四)集成电路微互连与封装技术 ( 4+2学时)

表面贴装中的微钎焊与焊料、裸芯片的微组装与测试技术、气密封装与非气密封装、封装的可靠性测试技术。

1.基本要求

1)了解钎焊的特点,熟悉无铅焊料的特点及与常规焊料在性能上的差别;

2)掌握五种常见裸芯片组装技术的特点,重点掌握芯片-引线法、带载芯片法、倒装贴片法的工艺流程与特点;

3)了解气密封装与非气密封装的材料、工艺与特点;了解集成电路常见的失效模式与可靠性测试技术。

 

2.重点、难点

重点:裸芯片组装技术与特点。

难点:常见封装形式的特点与测试技术。

3.作业及课外学习要求:

按要求完成课后作业。

三、教学安排及方式

总学时16学时,其中:讲授14学时,实验0学时,上机0学时,实践0学时,研讨2学时,线上0学时。

                                       

 

序号

 
 

课程内容

 
 

学时

 
 

教学方式

 
 

1

 
 

集成电路封装概述

 
 

2

 
 

讲授

 
 

2

 
 

厚膜沉积技术

 
 

4

 
 

讲授

 
 

3

 
 

薄膜成膜技术

 
 

4

 
 

讲授

 
 

4

 
 

集成电路微互连与封装技术

 
 

4+2

 
 

讲授+研讨

 

注:教学方式包括面授和线上,其中面授包括: 讲授、实验、上机、实践、研讨五种。

四、考核及成绩评定方式

最终成绩由平时成绩和期末论文成绩组合而成。各部分所占比例如下:

平时成绩:60%。主要考核到课率以及对每堂课知识点的复习、理解和掌握程度。包括小测试成绩和平时作业成绩。

课程论文成绩:40%。主要考核学生对本课程所学知识的拓展与应用能力,考查学生主动发现问题、解决问题的能力,考核学生撰写学术论文的能力。

 

过程成绩提交时间和总评成绩计算说明表

                               

 

序号

 
 

成绩提交时间

 
 

名称或说明

 
 

C1

 
 

第4次授课后、第5次授课前

 
 

小测试成绩

 
 

C2

 
 

第6次授课后、第7次授课前

 
 

小测试成绩

 
 

C3

 
 

每章结束后

 
 

平时作业成绩

 
 

C4

 
 

最后一次授课结束后

 
 

课程论文成绩

 
 

总评成绩 = C1*0.2  + C2*0.2 + C3*0.2 + C4*0.4

 

注:上表用于说明授课过程中分项成绩提交时间,教师应在规定的时间内提交对应成绩,提前或逾期无法提交,一旦提交无法修改。大纲可以根据需要自行定义提交成绩的次数、时间和名称或说明,总评成绩计算必须与考核和成绩评定方式中描述的一致。

 

五、教材及参考书目

教材:《集成电路芯片封装技术》(第二版),李可为编著,电子工业出版社

参考书目:

1. 电子封装工程》, 田民波编著,清华大学出版社

2. 《混合微电路技术手册材料、工艺、设计、试验和生产》,James J.Licari, Leonard R.Enlow编著,电子工业出版社

3.《厚薄膜混合微电子学手册》,Tapan K. Gupta编著,电子工业出版社

七、说明

(一)与相关课程的分工衔接

本科程内容针对半导体制备工艺中的后道工序及封装工序,包含了膜制备技术、组装技术、封装技术及检测技术等几个主要部分。本课程的学习,为电子与通信类学生后续的工程实践打下理论基础。

 

(二)其他说明

 

(执笔人:何亮       审核人:×××)

                            2018年     8 月   1  日



 



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